FLC Zbigniew Huber

Wir sind auf die umfassende Analyse von Ursachen elektronischer Ausfälle spezialisiert und konzentrieren uns dabei auf die genaue Bestimmung des Ortes des Problems und die Identifizierung möglicher Ursachen. Durch den Einsatz verschiedener Techniken, von elektrischen Messungen bis hin zur Rasterelektronenmikroskopie (SEM/EDS), sind wir in der Lage, präzise Analysen durchzuführen. Anschließend empfehlen wir Lösungen in Bezug auf die Produktgestaltung oder die Optimierung der Produktionsprozesse, um die Gerätezuverlässigkeit zu verbessern.