Nos especializamos en el análisis integral de las causas de fallas electrónicas, centrándonos en la determinación precisa de la ubicación del problema y la identificación de posibles causas. Al emplear varias técnicas, desde mediciones eléctricas hasta microscopía electrónica de barrido (SEM/EDS), podemos realizar análisis precisos. Posteriormente, recomendamos soluciones relacionadas con el diseño del producto o la optimización del proceso de producción para mejorar la confiabilidad del dispositivo.